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Uso da tomografia computadorizada por absoro de raios X como uma tecnologia de medio dimensional


D.C. Silva; Crhistian Raffaelo Baldo; A. Dirk


Resumo

A tomografia de raios X, inicialmente concebida para examinar estruturas internas do corpo humano, e sob constante evolução, tem se tornado uma importante ferramenta da metrologia dimensional. A extensa gama de aplicação potencial da tomografia de raios X na metrologia industrial, além da inspeção não destrutiva de materiais, requer senso metrológico para que resultados de medição adequados sejam produzidos. Este artigo descreve as primeiras impressões sobre o uso da tomografia computadorizada de raios X como uma ferramenta metrológica na avaliação de produtos que constituem a engenharia de precisão.


Referência
SILVA, D. C. B; BALDO, C. R.; DIRK, A. Comments about the use of X-ray computed tomography as a precision dimensional metrology technique. In: CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA MECÂNICA, 2., 2011, Natal. Proceedings...